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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：高低溫真空試驗箱

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：亞諾天下1811 566 3994
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
高低溫低氣壓箱，國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品業(yè)，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品在高低溫低氣壓單項或同時作用下，模擬高海拔、高空、（高原地區(qū)）氣候進行貯存運用、運輸可靠性試驗，并可同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測試。
詳情介紹：

    1）GB/T 10590-2006 高低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件；

    2）GB/T 10589-2008 低溫濕熱箱技術(shù)條件；

    3）GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件；

    4）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 （IEC 60068-2-1:2007, IDT）；

    5）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 （IEC 60068-2-2:2007, IDT）；

    6）GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓 （IEC 60068-2-13:1983, IDT）；

    7）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 （IEC 60068-2-14:2009, IDT）；

    8）GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗 （IEC 68-2-40:1976, IDT）；

    9）GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗 （IEC 68-2-41:1976, IDT）；

    10）GJB 150.2A-2009 **裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第2部分：低氣壓(高度)試驗；

    11）GJB 150.3A-2009 **裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗；

    12）GJB 150.4A-2009 **裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗；

    13）GJB 150.6A-2009 **裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第6部分：溫度高度試驗。


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